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扬杰科技申请碳化硅二极管器件及其制备方法专利,降低器件外延层的导通电阻,进一步提高器件通流能力

2023-12-30 20:53:12
金融界
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摘要:金融界2023年12月30日消息,据国家知识产权局公告,扬州扬杰电子科技股份有限公司申请一项名为“一种碳化硅二极管器件及其制备方法“,公开号CN117316986A,申请日期为2023年10月。专利摘要显示,一种碳化硅二极管器件及其制备方法。涉及半导体器件。包括从下而上依次设置的碳化硅衬底、碳化硅外延层、正面电极金属;所述碳化硅外延层的顶面设有若干向下延伸的P区沟槽,所述P区沟槽内设有P型区;若干所述P型区之间设有N区沟槽;所述P型区内部设有欧姆接触金属;所述欧姆接触金属和碳化硅外延层上设有肖特基结接触金属;所述肖特基结接触金属的上方设有正面电极金属;所述碳化硅衬底和碳化硅外延层的导电类型均为N型。本发明可以通过形成两层不同掺杂浓度的外延层,来降低器件外延层的导通电阻,进一步提高器件通流能力。

金融界2023年12月30日消息,据国家知识产权局公告,扬州扬杰电子科技股份有限公司申请一项名为“一种碳化硅二极管器件及其制备方法“,公开号CN117316986A,申请日期为2023年10月。

专利摘要显示,一种碳化硅二极管器件及其制备方法。涉及半导体器件。包括从下而上依次设置的碳化硅衬底、碳化硅外延层、正面电极金属;所述碳化硅外延层的顶面设有若干向下延伸的P区沟槽,所述P区沟槽内设有P型区;若干所述P型区之间设有N区沟槽;所述P型区内部设有欧姆接触金属;所述欧姆接触金属和碳化硅外延层上设有肖特基结接触金属;所述肖特基结接触金属的上方设有正面电极金属;所述碳化硅衬底和碳化硅外延层的导电类型均为N型。本发明可以通过形成两层不同掺杂浓度的外延层,来降低器件外延层的导通电阻,进一步提高器件通流能力。

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