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茂莱光学取得大尺寸透镜边沿厚度差测量装置专利,解决了现有技术中在测量大尺寸透镜边沿厚度差时的问题

2024-01-08 12:09:51
金融界
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摘要:金融界2024年1月8日消息,据国家知识产权局公告,南京茂莱光学科技股份有限公司取得一项名为“一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置“,授权公告号CN220304440U,申请日期为2023年7月。专利摘要显示,本实用新型公开了一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置,包括夹具主体、千分表,夹具主体两侧设有相互平行的上夹板和下夹板,上夹板和下夹板之间垂直设有两组限位柱,上夹板在两组限位柱之间的中心线上设有螺纹孔,千分表的探头垂直穿过螺纹孔,并指向下夹板,下夹板上靠近上夹板一侧设有调节柱和两组定位柱,调节柱位于两组定位柱之间中心线上,且与千分表的探头同轴对齐。本实用新型解决了现有技术中在测量大尺寸透镜边沿厚度差时,为了保证透镜外圈与旋转台同轴度精度,对透镜进行敲击,容易造成透镜平面磨损,影响表面光洁度,同时费时费力,对旋转台的平面精度要求高的问题。

金融界2024年1月8日消息,据国家知识产权局公告,南京茂莱光学科技股份有限公司取得一项名为“一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置“,授权公告号CN220304440U,申请日期为2023年7月。

专利摘要显示,本实用新型公开了一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置,包括夹具主体、千分表,夹具主体两侧设有相互平行的上夹板和下夹板,上夹板和下夹板之间垂直设有两组限位柱,上夹板在两组限位柱之间的中心线上设有螺纹孔,千分表的探头垂直穿过螺纹孔,并指向下夹板,下夹板上靠近上夹板一侧设有调节柱和两组定位柱,调节柱位于两组定位柱之间中心线上,且与千分表的探头同轴对齐。本实用新型解决了现有技术中在测量大尺寸透镜边沿厚度差时,为了保证透镜外圈与旋转台同轴度精度,对透镜进行敲击,容易造成透镜平面磨损,影响表面光洁度,同时费时费力,对旋转台的平面精度要求高的问题。

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