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长盈通申请光纤环高精度温度测试专利,解决了温度不均匀导致测试结果偏差的问题

2024-01-03 06:13:52
金融界
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摘要:金融界2024年1月2日消息,据国家知识产权局公告,武汉长盈通光电技术股份有限公司申请一项名为“用于光纤环高精度温度测试的保温测试装置”,公开号CN117330104A,申请日期为2023年9月。专利摘要显示,本申请提供一种用于光纤环高精度温度测试的保温测试装置,包括底座,底座上设有中间筒体,中间筒体远离底座的一端设有盖体,中间筒体内底座中央设有内凸起部,内凸起部上放置Y波导组件,中间筒体内用于放置光纤环,Y波导组件用于与光纤环连接,中间筒体侧壁设有夹腔,中间筒体上还设有至少两个第二连通口,第二连通口与夹腔连通,底座一侧设有第一导液管,底座上设有至少两个第一连通口,各第一连通口分别与第一导液管两端连通,夹腔和第一导液管内设有导热液,解决了传统采用温箱测试光纤环时,温度不均匀导致测试结果偏差的问题。

金融界2024年1月2日消息,据国家知识产权局公告,武汉长盈通光电技术股份有限公司申请一项名为“用于光纤环高精度温度测试的保温测试装置”,公开号CN117330104A,申请日期为2023年9月。

专利摘要显示,本申请提供一种用于光纤环高精度温度测试的保温测试装置,包括底座,底座上设有中间筒体,中间筒体远离底座的一端设有盖体,中间筒体内底座中央设有内凸起部,内凸起部上放置Y波导组件,中间筒体内用于放置光纤环,Y波导组件用于与光纤环连接,中间筒体侧壁设有夹腔,中间筒体上还设有至少两个第二连通口,第二连通口与夹腔连通,底座一侧设有第一导液管,底座上设有至少两个第一连通口,各第一连通口分别与第一导液管两端连通,夹腔和第一导液管内设有导热液,解决了传统采用温箱测试光纤环时,温度不均匀导致测试结果偏差的问题。

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